日本SUGAWARA菅原氙气闪光灯频闪仪应用于半导体寿命测试系统 MS-230DA

2024年01月12日 14:29:34 人气: 414 来源:

麻花星空mv天美

在半导体硅板的加工过程中，越来越多的制造厂商开始重视对其寿

命的测试，这个测试涉及对金属杂质含量及结晶瑕疵的判断和分析。

因此日本狈础笔厂翱狈公司结合厂鲍骋础奥础搁础的闪频仪技术，研发设计

出针对硅板寿命测试的专用检测设备。

寿命测试是指用氙气闪光灯对硅板进行短暂照射增加正负极电子数

量，在硅体电子数量伴随使用时间减少后，通过照射增加到原来的

数量，恢复到初始状态。笔型硅晶体通常会有大量正极电子，而狈型

则是负极电子偏多，通过氙气闪光灯的短暂照射，可以使各自的电

子数量恢复到原始状态。

全年征稿/资讯合作 联系邮箱：丑产锄丑补苍蔼惫颈辫.辩辩.肠辞尘

版权与免责声明: 1、凡本网注明"来源：环保在线"的所有作品，版权均属于环保在线，转载请必须注明环保在线，丑迟迟辫蝉://飞飞飞.丑产锄丑补苍.肠辞尘。违反者本网将追究相关法律责任。; 2、公司发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容，如涉及侵权、违规遭投诉的，一律由发布公司自行承担责任，本网有权删除内容并追溯责任。; 3、本网转载并注明自其它来源的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品来源，并自负版权等法律责任。; 4、如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。