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X射线荧光（XRF）分析技术是测定由初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可实现固体和液体样品的多元素快速分析。XRF适合各类固体，液体样品中主，次多元素同时测定，检出限在mg/kg 量级范围内，制样方法简单，现已广泛应用于地质、材料、环境、冶金样品的常规分析。XRF作为一种无损检测技术，可以直接应用于现场、原位分析，在材料分析领域占有重要地位。

齿搁贵7便携能量色散齿射线荧光分析仪是基于X射线荧光分析法对样品进行定性定量分析、检测构成元素类别和含量的小型化仪器。针对不同领域分析需求设有不同专业型号仪器。XRF7仪器轻便，体积小巧，适合野外作业；仪器内置GPS定位系统可自动存储每个采样点地理位置信息；真正实现了现场快速、准确、系统的分析检测。

齿搁贵7采用高性能微型射线管及高分辨探测器并配合优化的自动滤光系统及低信噪比电子系统使其具有性能。