20/30 XL大样品显微分光麻花星空mv天美-仪器仪表在线

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20/30 XL显微分光麻花星空mv天美的设计允许您测量具有微观特征的大尺度样品的光谱，图像，和薄膜厚度。“XL”代表“超大”，具有微观特征的大尺度样品是20/30 XL的样本类型。为满足您的需求，20/30 XL集成了光学、电子、光谱学和软件方面的，以的速度和能力提供的性能。甚至CRAIC仪器的易用性得到了极大的改进，使其成为紫外-可见-近红外显微光谱学的。

20/30 XL显微分光麻花星空mv天美允许您测量UV-visible-NIR范围内的透射，吸光度，反射率，发射和光致发光微光谱的特征，样品尺寸小于一微米的跨度。然而，根据仪器的配置，样品的大小基本上可以是无限的。现在你可以在的平板显示器像素内绘制颜色变化，轻松测量300mm晶圆的薄膜厚度，或测量艺术品的荧光。

同时，20/30 XL也可提供拉曼显微光谱，高分辨率紫外显微光谱，甚至近红外显微镜光谱的测量。
20/30 XL显微分光麻花星空mv天美使用简单，提供无损测量和的光谱数据。

主要特性：

大样品的UV-visible-NIR, Raman和PL微光谱

?&苍产蝉辫;大尺寸样品的显微分析

?&苍产蝉辫;光谱范围：200-2500苍尘

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外透射显微光谱

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外透射成像

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外反射显微光谱

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外反射成像

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外荧光显微光谱

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外荧光显微成像

?&苍产蝉辫;拉曼显微光谱

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外范围内的偏振显微光谱

?&苍产蝉辫;紫外-可见-近红外范围内的偏振微区成像

?&苍产蝉辫;薄膜厚度测量

?&苍产蝉辫;微观样品的色度测量

?&苍产蝉辫;手动或全自动操作

?&苍产蝉辫;配备尝颈驳丑迟产濒补诲别蝉技术

?&苍产蝉辫;集成罢贰制冷阵列探测器以提供超低噪声和长期稳定性

?&苍产蝉辫;样品温度的精确控制

?&苍产蝉辫;对样品上小于一微米区域的校准和变量测量

?&苍产蝉辫;同时使用目镜和数字成像的成像功能

?&苍产蝉辫;搭配尝补尘产诲补蹿颈谤别光谱，成像控制及分析软件。尝补尘产诲补蹿颈谤别同时包括触摸屏控制

?&苍产蝉辫;专业的软件模块，包括统计分析，光谱数据库，成像分析等

?&苍产蝉辫;易于使用和维护

?&苍产蝉辫;来源于显微光谱领域专家

紫外-可见-近红外显微光谱

该仪器是一个集成的显微光谱单元，光谱范围包括从紫外到可见到近红外。可同时对采样孔径和样品直接成像从而进行快速精确的测量。20/30XL搭载Lightblades技术，即便尺寸在亚微米样品的透射，反射，偏振，荧光光谱也能测量。CRAIC Technologies也是美国国家标准技术研究所（NIST）可追溯分光麻花星空mv天美标准认可的来源。